Patentometrie

Unter Patentometrie versteht man, analog zur Bibliometrie, die statistische Analyse und Auswertung von Patenten. Die Patentometrie lässt sich dabei beispielsweise als teilweises Untergebiet der Szientometrie und Bibliometrie definieren, da es sich auch hier um spezielle Veröffentlichungen mit Bezug zur Wissenschaft handelt.^[1] Patentometrie wird mit ähnlichen Analysemethoden betrieben wie auch die Bibliometrie, zum Beispiel Text Mining.^[2][3] In der Literatur findet sich noch weitere Synonyme zum Begriff Patentometrie, zum Beispiel das seltener genutzte „Patentinformetrie“^[4].

1. ↑ Jovanović, Miloš: Fußspuren in der Publikationslandschaft : Einordnung wissenschaftlicher Themen und Technologien in grundlagen- und anwendungsorientierte Forschung mithilfe bibliometrischer Methoden. Fraunhofer-Verlag, Stuttgart 2011, ISBN 978-3-8396-0316-1. 
2. ↑ Sungjoo Lee, Byungun Yoon, Yongtae Park: An approach to discovering new technology opportunities: Keyword-based patent map approach. In: Technovation. Band 29, Nr. 6-7, Juni 2009, ISSN 0166-4972, S. 481–497, doi:10.1016/j.technovation.2008.10.006 (sciencedirect.com [abgerufen am 20. August 2019]). 
3. ↑ Julien Gardan: Additive manufacturing technologies. In: Additive Manufacturing Handbook. CRC Press, 2017, ISBN 978-1-315-11910-6, S. 149–168 (taylorfrancis.com [abgerufen am 20. August 2019]). 
4. ↑ Jasmin Schmitz: Patentinformetrie : Analyse und Verdichtung von technischen Schutzrechtsinformationen. DGI, 2010, ISBN 978-3-925474-69-9.