Kikuchi-Linien

Aufnahme eines Siliziumeinkristalls mit einem 300 keV-Elektronenstrahl 7,9° von der [100]-Ebene gekippt

Kikuchi-Linien sind charakteristische Linien, die bei der Elektronenbeugung in Transmissionselektronenmikroskopen oder bei der Beugung rückgestreuter Elektronen in Rasterelektronenmikroskopen entstehen.

Ihre Bezeichnung geht zurück auf ihre Beschreibung durch Seishi Kikuchi 1928.[1][2][3]

  1. S. Kikuchi: Diffraction of Cathode Rays by Mica. In: Proceedings of the Imperial Academy. Band 4, 1928, S. 354–356.
  2. S. Nishikawa, S. Kikuchi: The Diffraction of Cathode Rays by Calcite. In: Proceedings of the Imperial Academy. Band 4, 1928, S. 475–477.
  3. S. Nishikawa, S. Kikuchi: Diffraction of Cathode Rays by Mica. In: Nature. Band 121, 30. Juni 1928, S. 1019–1020, doi:10.1038/1211019a0.

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