Rasterkraftmikroskop

Das Rasterkraftmikroskop, auch atomares Kraftmikroskop oder Atomkraftmikroskop (englisch atomic/scanning force microscope; Abkürzungen AFM bzw. SFM, seltener RKM) genannt, ist ein spezielles Rastersondenmikroskop. Es ist ein wichtiges Werkzeug in der Oberflächenchemie und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomarer Kräfte im Nanometerbereich. Eine nanoskopisch feine Nadel wird mittels einer Blattfeder gegen die zu messende Probe gedrückt, und die atomaren Kräfte biegen die Blattfeder. Diese Auslenkung kann mit Licht gemessen werden, und damit kann die Kraft berechnet werden, die zwischen den Atomen der Oberfläche und der Spitze wirkt. Da zwischen der Probe und der Spitze kein Strom fließt, können auch nichtleitende Proben untersucht werden.

Das Mikroskop wurde 1985 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber entwickelt.^[1]

1. ↑ G. Binnig, C. F. Quate, Ch. Gerber: Atomic Force Microscope. In: Physical Review Letters. Band 56, Nr. 9, 1986, S. 930–933, doi:10.1103/PhysRevLett.56.930.